運(yùn)行圖的繪制方法如下:
1.按時間順序畫一張數(shù)據(jù)折線圖。
2.找到數(shù)據(jù)的中位數(shù),在圖上畫一條水平線,并用“中位數(shù)”標(biāo)記這條線。
運(yùn)行圖可用于判斷過程是否受到特殊因素的影響。有幾種方法可以判斷:
游程長度是指中位數(shù)同一側(cè)的連續(xù)點(diǎn)數(shù)。除非該過程受到異常因素的影響,否則一長串連續(xù)的點(diǎn)不太可能落在中位數(shù)的同一側(cè)。因此,檢查游程長度成為檢查特殊波動因素的一種方法。
但是,有些值正好等于中位數(shù)。如果只有一個點(diǎn)落在中線上,忽略這個點(diǎn)。在奇數(shù)數(shù)據(jù)點(diǎn)的情況下,通常至少有一個數(shù)據(jù)值等于中值。如果有一個以上的點(diǎn)落在中線上,將這些點(diǎn)按每邊50%的比例分配給兩邊。如果最長運(yùn)行的長度很長,這個過程很可能會受到特殊波動原因的影響。游程長度是否異常應(yīng)通過統(tǒng)計檢驗(yàn)來判斷。
3.趨勢
運(yùn)行圖不應(yīng)有任何連續(xù)上升和下降的異常序列。如果出現(xiàn)這種情況,說明有一些異常趨勢。如果連續(xù)增減的點(diǎn)較多,可能存在特殊因素導(dǎo)致的過程偏差,需要通過統(tǒng)計檢驗(yàn)判斷運(yùn)行圖中的趨勢是否異常。
繪圖示例:
假設(shè)你的公司生產(chǎn)各種測量輻射的設(shè)備。作為一名質(zhì)量工程師,我們關(guān)心的是膜片式設(shè)備能否穩(wěn)定測量輻射。有必要分析從檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室收集的20臺設(shè)備(2組)獲得的數(shù)據(jù)。每次檢查后,記錄每個設(shè)備測量的輻射量。作為研究措施,決定構(gòu)建運(yùn)行圖以評估測量值的變化,如圖所示:
解釋結(jié)果:
聚類檢驗(yàn)在0.05水平上顯著。由于檢驗(yàn)概率(p =0.022)小于A值0.05,可以得出特殊原因正在影響過程,應(yīng)調(diào)查可能的來源。